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THORLABS光纤端面干涉仪GL16

THORLABS光纤端面干涉仪GL16

GL16光纤端面几何形状测量仪器使用非常简单,能够测量单芯和多芯接头的端面几何形状,并对其成像。它采用非接触式白光扫描干涉技术(SWLI),能够提供高准确度、高重复性和高可靠性的光纤接头测试

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产品特性:其他是否进口:否加工定制:否
类型:激光干涉仪品牌: THORLABS 型号: GL16
品种:激光干涉仪

THORLABS光纤端面干涉仪GL16详细介绍

天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国THORLABS光纤端面干涉仪GL16

产品型号:GL16

产品介绍

 

GL16光纤端面几何形状测量仪器使用非常简单,能够测量单芯和多芯接头的端面几何形状,并对其成像。它采用非接触式白光扫描干涉技术(SWLI),能够提供高准确度、高重复性和高可靠性的光纤接头测试,尤其适合根据IEC或Telcordia标准进行的合格/不合格测试。系统既可以通过触摸屏进行本地控制,又可以通过基于浏览器的应用程序实施远程操作,易于集成到生产车间。

所有系统组件完全集成在封闭的外壳中。宽带宽570 nm LED光源配合迈克尔逊干涉物镜使用,测量间隔高度变化高达35 μm的相移。压电位移台相对于接头移动干涉物镜,并使用高分辨率相机收集所产生的干涉图案。然后生成接头表面的3D高度图,并利用2.2 ?m的横向分辨率和1.1 nm的高度分辨率计算光纤几何形状参数。白光干涉法还能够表征凹陷或突出的光纤,而这一点在使用单色干涉仪时可能会被忽略。

附带的GL16M4 MT型安装夹具有助于实现一次8秒测量12芯每行的插芯中max.72根光纤。换出附带的夹具,GL16还可测量其他光纤类型和接头类型。请根据待测接头类型和光纤数量在下方选择合适的安装组件。

 

性能特点

 

3D干涉仪,用于测量端面几何形状

非接触式闭环压电白光扫描干涉技术(SWLI)

完全符合IEC和Telcordia等行业规范

兼容所有主要的接头类型(请看下表)

NIST可追踪标准,用于放大倍率和偏转位移台的校准

集成的触摸屏上提供完整的扫描信息,测量时间≤8 s(典型值)

基于浏览器的应用程序,支持远程访问操作

导出为.CSV格式的数据,SQL数据库或扫描报告

 

选型指南

产品结构与细节

可选功能与配件


 

技术参数


 

产品尺寸


 

产品应用

 天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立,坐落于渤海之滨天津,地理位置得天独厚,交通运输便利,进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心,我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国***的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品,同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

 

(价格仅供参考  商品为进口商品,受汇率 关税 运费等不确定因素 ,不支持网上订货,订货前请电话确认价格)

 


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