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美国CDE四点探针电阻仪ResMap 178

美国CDE四点探针电阻仪ResMap 178

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是否进口:否加工定制:否类型:接地电阻测量仪表
品牌:CDE型号:ResMap 178测量范围:15MΩ

天津瑞利光电科技有限公司优势经销CDE四点探针电阻仪ResMap 178

产品型号:ResMap 178

产品介绍CDE 的成立旨在为半导体及相关行业开发和制造高性能、高性价比的晶圆计量工具。CDE ResMap是一系列适用于各种应用的自动电阻率测绘系统。4点探针测量工具是一种仪器,用于测量导电介质(通常是半导体应用的薄膜)中的薄层电阻(或Rs)。ResMap Model 178已成为成本效益电阻率测量的行业标准。该四点探针旨在满足工艺开发和工具表征工程师的需求,具有所需的准确性、可重复性和可靠性。其庞大的安装群证明了其性能、易用性和低拥有成本。

性能特点

可靠性

易用性

参数:

产地:美国

晶片处理:手动装载

晶圆尺寸:2英寸至8英寸

尺寸:12英寸x 19英寸x 10英寸

精度:<±0.5%

重复性:0.02%静态,0.1%动态

最小边缘排除:<1.5mm

是否进口:是

封装:厂家制定

性能:良好

可靠性:高

 

天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立,坐落于渤海之滨天津,地理位置得天独厚,交通运输便利,进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心,我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品,同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

 

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